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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂(lè)觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來(lái)高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。...

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技術(shù)文章

進(jìn)一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務(wù)

  • 技術(shù)文章 2024-07-17
    應(yīng)用分享 | TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用

    引言光伏發(fā)電新能源技術(shù)對(duì)于實(shí)現(xiàn)碳中和目標(biāo)具有重要意義。近年來(lái),基于有機(jī)-無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦的光電太陽(yáng)能電池器件取得了飛速的發(fā)展,目前報(bào)道的光電轉(zhuǎn)化效率已接近26%。鹵化物鈣鈦礦材料具有無(wú)限的組分調(diào)整空間,因此表現(xiàn)出優(yōu)異的可調(diào)控的光電性質(zhì)。然而,由于多組分的引入,鈣鈦礦材料生長(zhǎng)過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)多相競(jìng)爭(zhēng)問(wèn)題,導(dǎo)致薄膜初始組分分布不均一,這嚴(yán)重降低了器件效率和壽命。圖1.鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu)TOF-SIMS應(yīng)用成果由于目前用于高性能太陽(yáng)能電池的混合鹵化物過(guò)氧化物中的陽(yáng)離子和陰離子的混合物經(jīng)常發(fā)生...

  • 技術(shù)文章 2024-07-17
    應(yīng)用分享 | HAXPES∣多層結(jié)構(gòu)器件界面的無(wú)損深度分析案例

    XPS的探測(cè)深度在10nm以內(nèi),然而對(duì)于實(shí)際的器件,研究對(duì)象往往會(huì)超過(guò)10nm的信息深度,特別是在一些電氣設(shè)備中,有源層總是被掩埋在較厚的電極之下。因此,利用XPS分析此類樣品,需要結(jié)合離子刻蝕技術(shù)。顯然,離子刻蝕存在擇優(yōu)濺射效應(yīng),特別是對(duì)于金屬氧化物,會(huì)破壞樣品原始的化學(xué)態(tài),導(dǎo)致只憑常規(guī)XPS無(wú)法直接對(duì)埋層區(qū)域進(jìn)行無(wú)損深度分析。好在研究表明增加X(jué)射線的光子能量可以增加探測(cè)深度。對(duì)此,ULVAC-PHI推出了實(shí)驗(yàn)室HAXPES設(shè)備,且可同時(shí)配備微聚焦單色化AlKα(1486....

  • 技術(shù)文章 2024-07-17
    應(yīng)用分享 | X射線反射率(X-ray reflectivity, XRR)

    XRR是什么?XRR是一種方便、快速的分析單層或多層薄膜和表面的方法,是一種納米尺度上的分析方法,同時(shí)可實(shí)現(xiàn)無(wú)損分析。例如,通過(guò)原子層沉積(ALD)技術(shù)沉積的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同樣也適用于其他方法制備的薄膜,如通過(guò)分子層沉積(MLD)沉積的有機(jī)/無(wú)機(jī)超晶格。與光學(xué)橢偏法不同,該方法不需要預(yù)先了解薄膜的光學(xué)性質(zhì),也不需要假設(shè)薄膜的光學(xué)性質(zhì)。然而,XRR不能提供有關(guān)材料晶體結(jié)構(gòu)的信息,并且多層膜只能在有限的深度內(nèi)表征。XRR簡(jiǎn)單原理介紹XRR分析...

  • 技術(shù)文章 2024-07-10
    應(yīng)用分享 | 原位冷凍TOF-SIMS對(duì)斑馬魚(yú)RPE組織的生物成像

    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS),也叫靜態(tài)二次離子質(zhì)譜,是飛行時(shí)間和二次離子質(zhì)譜結(jié)合的一種新的表面分析技術(shù)。因其免標(biāo)記、高靈敏、多組分檢測(cè)和高空間分辨成像等優(yōu)勢(shì),為諸多生命科學(xué)問(wèn)題的研究提供了重要的技術(shù)支持。近年來(lái),TOF-SIMS在基礎(chǔ)細(xì)胞生物學(xué)、組織生理病理學(xué)、生物醫(yī)藥與臨床醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究中被廣泛應(yīng)用。圖1.“水中小白鼠”斑馬魚(yú)(左);冷凍干燥的斑馬魚(yú)頭部截面的光學(xué)顯微鏡圖像(右)。小科普:斑馬魚(yú)(zebrafish)被稱為“水中小白鼠”,是生物學(xué)家的理想實(shí)驗(yàn)對(duì)...

  • 技術(shù)文章 2024-07-10
    應(yīng)用分享 | 鋰離子電池充放電下的原位XPS表征

    鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的復(fù)雜體系,具有多種材料和界面,每個(gè)膜層和界面在性能和穩(wěn)定性方面都起著關(guān)鍵作用。調(diào)整這些材料的組成和形態(tài)就可以創(chuàng)建更穩(wěn)定、性能更高的器件,但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發(fā)生化學(xué)反應(yīng),形成枝晶,枝晶會(huì)刺穿隔膜造成短路,鋰金屬負(fù)極在充放電過(guò)程中也會(huì)明顯收縮,破壞保護(hù)的固體電解質(zhì)(SEI)膜,降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對(duì)金屬鋰表面起到鈍化效果,減少鋰枝晶的形成,以提高電池的耐用性,因此開(kāi)發(fā)性能穩(wěn)定...

  • 技術(shù)文章 2024-07-10
    布魯克全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告(五)—?dú)堄鄳?yīng)力分析

    殘余應(yīng)力是材料在經(jīng)過(guò)焊接、鑄造、成型、機(jī)械加工或薄膜沉積等過(guò)程中殘留在材料中的內(nèi)應(yīng)力。殘余應(yīng)力分析對(duì)于了解這些內(nèi)應(yīng)力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外,殘余應(yīng)力分析還可以確定特定的材料特性和失效機(jī)制,從而用于構(gòu)件和零件的設(shè)計(jì)。傳統(tǒng)上,殘余應(yīng)力的測(cè)試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行,臺(tái)式衍射儀通常用于簡(jiǎn)單的測(cè)試項(xiàng)目,比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能臺(tái)式衍射儀,它不僅可以進(jìn)行常規(guī)的粉末衍射分析,還可以進(jìn)行薄膜測(cè)試(GID、XRR)、織構(gòu)和應(yīng)力測(cè)試、對(duì)分布函數(shù)測(cè)試(...

  • 技術(shù)文章 2024-07-02
    應(yīng)用分享 | PHI TOF-SIMS助力鋰電的綠色可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略

    PHITOF-SIMSAssistingTheGreenandSustainableDevelopmentStrategyofLithiumBattery隨著國(guó)內(nèi)新能源汽車銷量高速增長(zhǎng),動(dòng)力電池裝機(jī)量也隨之迅速攀升。鑒于新能源汽車動(dòng)力電池的平均使用壽命約為6~8年,動(dòng)力電池在未來(lái)2-3年內(nèi)將迎來(lái)大規(guī)模退役潮,因此動(dòng)力電池的回收已成為全國(guó)甚至全球相關(guān)產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展的關(guān)鍵。鋰的回收需要考慮諸多問(wèn)題,如回收效率、回收成本、環(huán)境污染以及方法的可行性等。傳統(tǒng)的廢鋰回收方法主要有火法冶金...

  • 技術(shù)文章 2024-07-02
    應(yīng)用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS

    XPS作為一種表面靈敏的分析技術(shù),可以探測(cè)樣品表面10nm以內(nèi)的信息,而在材料分析中深度分析是獲取不同深度下組分和化學(xué)態(tài)信息的重要方法。在XPS深度分析中,有3個(gè)采樣深度值得關(guān)注:(1)0-10nm,這是基于常規(guī)AlKαX射線XPS的探測(cè)深度,對(duì)于超薄膜層結(jié)構(gòu)的深度分析可以通過(guò)變角度XPS實(shí)現(xiàn);(2)0-30nm,這是基于硬X射線XPS(HAXPES)的探測(cè)深度,可以通過(guò)切換X射線能量進(jìn)行無(wú)損深度分析;(3)0-1000nm,需要采用離子束剝離的破壞性深度剖析。氬離子刻蝕是常...

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